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Mathias Beyerlein
Prof. Dr. rer. nat.

Mathias Beyerlein

Telefon
+49 451 300 5745
E-Mail
mathias.beyerlein@th-luebeck.de
Raum
11-2.07
Funktionen
Präsidiumsbeauftragter für Wissenschaftsethik und Technikfolgenabschätzung
Organisation
Fachbereich Angewandte Naturwissenschaften
Biographie
2014 -
Professur für Optik, insbesondere Ophthalmotechnologie, Technische Optik, Optische Messtechnik, Optikdesign,
2010 - 2014
Gesellschafter und Mitgründer, VisioCraft GmbH für Messtechnik am Auge, Erlangen
2002 - 2004
Bayerisches Förderprogramm zur Existenzgründung FLUEGGE, persönliche Förderung,
2001 - 2014
Gesellschafter-Geschäftsführer und Mitgründer, Optocraft GmbH, Erlangen
2000 - 2000
DAAD geförderter Forschungsaufenthalt bei Prof. Ichirou Yamaguchi, RIKEN Institute, Optics Engineering Laboratory, Wako, Saitama. Japan
1995 - 2001
Promotion, Wissenschaftlicher Angestellter am Lehrstuhl für Optik von Prof. G. Leuchs, Arbeitsgruppe Prof. J. Schwider, Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
1993 - 1994
Studium der Physik (Diplom), Carl von Ossietzky Universität Oldenburg
1989 - 1996
Studium der Physik (Diplom), Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg
Publikationen
2021
Beyerlein, M.; Gienow-Broers, M.: Verfahren und Vorrichtung zum schnellen Erfassen eines hyperspektralen Kubus eines Objekts oder einer Szene; Patent DE102020127964
2012
Beyerlein, M.; Pfund, J.; Brünner, H.: Method and device for topography measurement of an eye; Patent WO/2012/116807
2010
Pfund, J.; Beyerlein, M.: Device and method for measuring a lens system, particulary of an eye; Patent WO/2010/118840
2010
Dorn, R., Meyer, R., Beyerlein, M., Pfund, J.: Funktionsprüfung von Stereomikroskopobjektiven bei mehreren Wellenlängen mittels Shack-Hartmann Wellenfrontsensor, in DGaO Proceedings, 111. Tagung, P14
2009
Schwider, J.; Beyerlein, M.; Pfund, J.: Polarizations Inferferometer zur optischen Prüfung; Patent DE102007056200
2008
Wildenhain, M.; Knobbe, J.; Gehner, A.; Beyerlein, M.; Pfund, J.: Adaptive optical imaging correction using wavefront sensors and micro mirror arrays, in Photonik international (englische Sonderausgabe), Issue 1, p.46-49
2007
Lamprecht, J.; Beyerlein, M.; Pfund, J.: Zylinder Durchblick (Testen von FAC Linsen), Redaktioneller Beitrag in Laser+Photonik, Ausgabe 5
2007
Wildenhain, M.; Knobbe, J.; Gehner, A.; Beyerlein, M.; Pfund, J.: Adaptiv-optische Abbildungskorrektur mit Wellenfrontsensoren und Mikrospiegelarrays, Redaktioneller Beitrag in Photonik 39, Ausgabe 3, S. 72-75
2007
Pfund, J.; Beyerlein, M.; Dorn, R.; Lamprecht, J.: Wellenfront geführte Justage und Prüfung von Optiksystemen mit Lichtquellen niedriger Kohärenz, in DGaO Proceedings, 108. Tagung, A14
2006
Beyerlein, M.; Pfund, J.: Shack-Hartmann wavefront sensors move into new applications, Redaktioneller Beitrag in Laser Focus World, Issue 4
2006
Berg, U.; Beyerlein, M.; Dorn, R.; Eppig, T.; Lindlein, N.; Pfund, J.; Schwider, J.: DOE-basierter Ansatz zur gleichzeitigen Vermessung von Aberrationen und Hornhautoberfläche, in DGaO Proceedings, 107. Tagung, P38
2006
Pfund, J.; Beyerlein, M.; Dorn, R.; Lamprecht, J.: Nicht-Null Test in Durchlicht und Auflicht, in DGaO Proceedings, 107. Tagung, P26
2005
Beyerlein, M.; Pfund, J.: „Device and method for measuring the surface topography and the wave aberration of a lens system, particulary an eye“; Patent WO/2005/027741
2005
Pfund, J.; Beyerlein, M.; Dorn, R.: Shack-Hartmann Sensors for Industrial Quality Assurance, in book: Adaptive Optics for Industry and Medicine, January 2005, DOI: 10.1007/3-540-28867-8_16 pp.141-150
2005
Dorn, R.; Pfund, J.; Beyerlein, M.: Effizient justieren mit Wellenfrontsensoren, Redaktioneller Beitrag in LASER+PHOTONIK, Ausgabe 5, S. 28
2005
Beyerlein, M.; Pfund, J.; Dorn, R.: Automatisierte 100% Optikprüfung, Redaktioneller Beitrag in Photonik, Ausgabe 4
2005
Dorn, R., Pfund, J; Beyerlein, M.; Lamprecht, J.; Lindlein, N.; Schwider, J.; Kaiser. R.; Lapsien, H.: Fast, comprehensive and reliable testing of micro-optical elements and systems, in DGaO Proceedings, 106. Tagung, A24
2003
Pfund, J.; Beyerlein, M.; Schwider, J.: Der Shack- Hartmann-Sensor – Eine wertvolle Ergänzung interferometrischer Prüfverfahren, Redaktioneller Beitrag in LASER+PHOTONIK, Ausgabe Juni, S. 58
2002
Beyerlein, M.; Lindlein, N.; Schwider, J. : Dual-wave-front computer-generated holograms for quasi-absolute testing of aspherics, in Appl. Opt. (USA), 41 , p.2440
2002
Schreiner, R.; Beyerlein, M.; Harder, I.: Dresel, T.; Lindlein, N.; Schwider, J.: Form assessment of hollow cylindrical specimens, in Appl. Opt. (USA), 41 , p.64
2002
Schwider, J.; Lindlein, N.; Schreiner, R.; Lamprecht, J.; Leuchs, G.; Pfund, J.; Beyerlein, M.: Optical testing of refractive microlenses, in Tech. Mess. tm (Germany, englische Sonderausgabe) , 69(11): p. 467-482.69
2002
Schwider, J; Lindlein, N.; Schreiner, R.; Lamprecht, J.; Leuchs, G.; Pfund, J.; Beyerlein, M.: Optikprüfung von refraktiven Mikrolinsen, in tm - Technisches Messen (original Ausgabe). 69.10.1524 teme.2002.69.11.467
2000
Beyerlein, M.; Schwider, J. : Comparing beam-shaping CGHs for coherent and partially coherent light, in Trends in Optics and Photonics. Diffractive Optics and Micro-Optics. Vol.41. Technical Digest. Postconference Edition, p.29
1996
Dresel, T.; Beyerlein, M.; Schwider, J.: Design of computer generated beam-shaping holograms by iterative finite-element mesh adaption, in Appl. Opt. (USA), 35 , p.6865
1996
Dresel, T.; Beyerlein, M.; Schwider, J.: Design and fabrication of computer-generated beam-shaping holograms, in Appl. Opt. (USA) , 35 , p.4615

Forschung und Transfer
Fachgruppe Angewandte Photonik
Fachgruppe Medizinische Optik

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Mönkhofer Weg 239
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Telefon: +49 (0) 451-300 6
Fax: +49 (0) 451-300 5100
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